ICS31-030 L90 中华人民共和国国家标准 GB/T11446.6—2013 代替GB/T11446.6—1997 电 子级水中二氧化硅的 分光光度测试方法 TestmethodforSiO2inelectronic gradewaterbyspectrophotometer 2013-12-31发布 2014-08-15实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布 中华人民共和国 国家标准 电子级水中二氧化硅的 分光光度测试方法 GB/T11446.6—2013 * 中国标准出版社出版发行 北京市朝阳区和平里西街甲2号(100013) 北京市西城区三里河北街16号(100045) 网址:www.gb168.cn 服务热线:400-168-0010 010-68522006 2014年4月第一版 * 书号:155066·1-48678 版权专有 侵权必究 前 言 GB/T11446预计结构如下: ———GB/T11446.1 电子级水; ———GB/T11446.2 (待定); ———GB/T11446.3 电子级水测试方法通则; ———GB/T11446.4 电子级水电阻率的测试方法; ———GB/T11446.5 电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法; ———GB/T11446.6 电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法; ———GB/T11446.7 电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法; ———GB/T11446.8 电子级水中总有机碳的测试方法; ———GB/T11446.9 电子级水中微粒的仪器测试方法; ———GB/T11446.10 电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法。 本部分为GB/T11446的第6部分。 本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本部分代替GB/T11446.6—1997《电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法》。 本部分与GB/T11446.6—1997相比,主要有下列变化: ———将“9干扰因素”修改为“5干扰因素”(见第5章); ———“工作曲线的绘制”中,根据待测水样中二氧化硅含量,明确将工作曲线分为两组(见9.1.1和 9.1.2); ———增加了“对水样独立进行两次测定,取其平均值”(见9.3.3)。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由中国电子技术标准化研究所归口。 本部分起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国科学院半导体研究所、中国电子技 术标准化研究院、中国电子科技集团公司第四十六研究所。 本部分主要起草人:王奕、褚连青、何秀坤、段曙光、提刘旺、刘筠。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为: ———GB/T11446.6—1989、GB/T11446.6—1997。 ⅠGB/T11446.6—2013