ICS 29. 060 K 13 中华人民共和国国家标准 GB/T 2951.42--2008/IEC 60811-4-2:2004 代替GB/T2951.9-—1997 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第42部分：聚乙烯和聚丙烯混合料专用试验 方法高温处理后抗张强度和断裂伸长率 试验一高温处理后卷绕试验- 空气热老 化后的卷绕试验 测定质量的增加 长期热稳定性试验 一一铜催化氧化降解 试验方法 Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and optical cables--Part 42 :Methods specific to polyethylene and polypropylene compounds Tensile strength and elongation at break after conditioning at elevated temperature--Wrapping test after conditioning at elevated temperature--Wrapping test after thermal ageing in air-Measurement of mass increaseLong-term stability test-Test method for copper-catalyzed oxidative degradation (IEC 60811-4-2:2004,IDT) 2009-04-01实施 2008-06-26 发布 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 2951.42--2008/IEC 60811-4-2:2004 前言 GB/T2951《电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法》分为10个部分： 第11部分：通用试验方法一厚度和外形尺寸测量一—机械性能试验; 第12部分：通用试验方法热老化试验方法； —第13部分：通用试验方法——密度测定方法吸水试验——收缩试验; 第14部分：通用试验方法——低温试验； —第21部分：弹性体混合料专用试验方法——耐臭氧试验——热延伸试验-浸矿物油试验; 第31部分：聚氯乙烯混合料专用试验方法—高温压力试验抗开裂试验; 第32部分：聚氯乙烯混合料专用试验方法—失重试验热稳定性试验; -—第41部分：聚乙烯和聚丙烯混合料专用试验方法——耐环境应力开裂试验熔体指数测量 方法——直接燃烧法测量聚乙烯中碳黑和/或矿物质填料含量-热重分析法（TGA）测量碳 黑含量一显微镜法评估聚乙烯中碳黑分散度； 验-高温处理后卷绕试验空气热老化后的卷绕试验—测定质量的增加长期热稳 定性试验一一铜催化氧化降解试验方法； 第 51 部分:填充膏专用试验方法——滴点——-油分离—-—低温脆性—总酸值—腐蚀 一 性——23℃时的介电常数-23℃和100℃时的直流电阻率。 本部分为GB/T2951的第42部分。 本部分等同采用IEC60811-4-2:2004《电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第4-2部分：聚 乙烯和聚丙烯混合料专用试验方法—高温处理后抗张强度和断裂伸长率试验高温处理后卷绕试 验—空气热老化后的卷绕试验测定质量的增加-长期热稳定性试验—铜催化氧化降解试验 方法》(英文版)。 为便于使用,本部分做了下列编辑性修改： 用第42部分”代替“第4-2部分”； 用小数点“”代替作为小数点的“，”； 删除国际标准的前言; --本部分 1.2 引用了采用国际标准的我国标准而非国际标准; 调处增加了“光缆”。 本部分代替GB/T2951.9一1997《电缆绝缘和护套材料通用试验方法第4部分：聚乙烯和聚丙烯 混合料专用试验方法第2节：预处理后断裂伸长率试验—预处理后卷绕试验—空气热老化后的 卷绕试验一一测定质量的增加附录A：长期热稳定性试验附件B:铜催化氧化降解试验方法》。 本部分与GB/T2951.9—1997相比主要变化如下： -本部分名称修改为：“电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第42部分：聚乙烯和聚丙烯 验——空气热老化后的卷绕试验——测定质量的增加-——长期热稳定性试验—-铜催化氧化 降解试验方法”； 一与本部分名称相对应，英文名称修改为："Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and optical cables-Part 42: Methods specific to polyethylene and poly- GB/T2951.42—2008/IEC60811-4-2:2004 propylene compounds--Tensile strength and elongation at break after conditioning at elevat- ed temperature--Wrapping test after conditioning at elevated temperature-Wrapping test after thermal ageing in air-measurement of mass increase--Long-term stability test-Test method for copper-catalyzed oxidative degradation"; -第1章标题“范围”修改为“概述”,之下分为两条，1.1“范围”，新增1.2“规范性引用文件” （1997版的第1章；本版的第1章）； 第2章); 前版标准的第3章“适用范围”变更为本版的第4章，并增加了“光缆”（1997版的第3章；本版 的第4章)； 第8章标题由“预处理后的断裂伸长率”变更为“高温处理后的抗张强度和断裂伸长率”（1997 版第8章；本版的第8章）； -8.1中"绝缘厚度小于0.8mm”变更为"绝缘厚度大于0.8mm”,并增加了"和直接接鲶填充 膏的聚烯烃护套”(1997版8.1;本版的8.1)； —一8.2标题由“预处理步骤”变更为“处理步骤”;填充膏预热温度的允许差由“士1”修改为 “士2℃”;增加了关于“滴点”定义的"注”;补充了对护套试样处理的陈述(1997版8.2;本版的 8.2); 一前版标准中8.3、8.4和8.5合并为本版的8.3“高温处理后的抗张强度和断裂伸长率”（1997 版8.3、8.4和8.5；本版的8.3）； 前版标准中8.6"试验结果评定”变更为本版的8.4(1997版8.6；本版的8.4)； -9.1关于试样绝缘厚度范围的规定由“小于0.8mm"修改为“小于或等于0.8mm"（1997版 9.1;本版的 9.1); 一新增了试样“处理步骤”的9.2,其后条文编号顺延（1997版无；本版的9.2)； -9.3与等同于2004版IEC60811-4-1的GB/T2951.41中第9章相适应，试样卷绕试验的方法 9.3); —-9.4中对于“如果有一个试件开裂,试验可再重复一次”的规定，明确了试验“仅”可再重复一次 （1997版9.3；本版的9.4)； --10.1关于试样绝缘厚度范围的规定由小于0.8mm"修改为“小于或等于0.8mm"（1997版 10.1;本版的10.1); —10.4明确试样放人试验箱时试验箱应"已预热”(1997版10.4；本版的10.4)； -10.5拆分为两条下级条文"10.5.1”和“10.5.2”。在10.5.2中增加规定了试样卷绕图数为 “10圈”，并明确试样放人试验箱时试验箱应已预热”（1997版10.5;本版的10.5)； -11.3中填充膏预热温度的允许偏差由“士1℃”修改为“±2℃”,并增加了关于填充膏滴点定 义的“注”(1997版11.3;本版的11.3)； 一增加A.2章条件处理”，其后章的编号顺延(1997版无；本版的第A.2章）； 一A.3.3中“读数分辨至0.2℃”修改为"0.1℃”,增加了“总的测量不确定度不超过 0.2℃”的 规定（1997版A2.3；本版的A.3.3)； -A.5.1.3中增加了“可以选择附录B的OIT试验，测得的氧化诱导时间应至少2min。"(1997 版 A.4.1.3;本版的 A.5.1.3)； A.5.1. 4); I